выход годных кристаллов ИС на операции зондовых испытаний

zondais išbandytų lustų išeiga statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. probed chip yield vok. Chipprüfausbeute, f rus. выход годных кристаллов ИС на операции зондовых испытаний, m pranc. rendement des puces aux essais de sonde, m